X射線是表面殘余應力測定技術中為數(shù)不多的無損檢測法之一，是根據(jù)材料或制品晶面間距的變化測定應力的，至今仍然是研究得廣泛、深入、成熟的內應力測量方法，被廣泛的應用于科學研究和工業(yè)生產的各領域。2012年日本Pulstec公司開發(fā)出基于全二維探測器技術的新一代X射線殘余應力分析儀——μ-X360n，將利用X射線研究殘余應力的測量速度和精度推到了一個全新的高度，設備推出不久便得到業(yè)界的廣泛好評。由于其技術測試數(shù)據(jù)可重復性之高、使用之便攜，設備一經推出便備受業(yè)界青睞！ 近期，日本Pulstec公司成功克服技術難點，發(fā)布了新的產品型號：μ-X360s，將全二維面探測器技術的產品設計和功能完善再次升級！
